SRM640g标准品研究

SRM-640g 是由美国国家标准与技术研究院（NIST）认证的‌超高纯硅粉X射线粉末衍射（XRD）标准参考物质‌，专为‌晶体结构分析、仪器校准与衍射数据标准化‌设计，是半导体、光伏、材料科学领域实现‌晶格参数量值溯源与峰形精度控制‌的国际金标准。

该标准品具备‌本征基质、纳米级均一、氩气封装‌三大核心技术优势：

‌基质特性‌：采用德国Siltronic AG超高纯本征硅晶锭，经喷射研磨形成中值粒径4.1 μm的超细粉末，晶格缺陷密度极低，确保衍射信号纯净；

‌认证参数‌：在22.5°C下，晶格参数认证值为 ‌0.5431144nm±0.000008nm‌（k=2），溯源至国际单位制（SI）长度基准，相对不确定度≤4.8×10⁻⁸；

‌形态封装‌：每单位7.5 g，氩气密封玻璃瓶包装，彻l底隔绝湿气与污染，保障长期稳定性。

‌

适用检测技术与应用场景‌：

应用领域检测技术         核心用途

半导体制造Bragg-Brentano XRD校准2θ角与衍射峰半高宽（FWHM），提升晶圆缺陷检测精度

光伏材料XRD精修分析验证多晶硅晶粒取向与内应力，优化电池转换效率

材料科研Pawley精修法作为基准物质校准衍射仪线形模型，支持纳米晶粒尺寸计算

实验室质控XRD系统验证参与CNAS、A2LA能力验证，确保检测结果国际互认

‌操作规范‌：

‌储存‌：未开封保持原瓶氩气环境，置于干燥、避光、室温（≤30°C）环境；

‌使用前处理‌：开瓶后在惰性气氛下转移样品，避免暴露于空气；

‌装样要求‌：采用Bragg-Brentano几何，确保粉末床堆积密度高、表面平整，推荐装样量≥50 mg；

‌校准方法‌：结合基本参数法（FPA）与Pawley精修，校准衍射峰位置与宽度，推荐使用Si(111)、(220)、(311)主峰；

‌稳定性‌：认证有效期无限，前提是未受潮、未污染或物理损伤，每批次附带NIST官l方COA，含晶格参数、FWHM信息值及分析方法说明。

东莞市百顺生物科技有限公司专业提供SRM640g标准品，欢迎咨询定购。