SRM 1976c标准品XRD系统级校准基准

核心定位‌

SRM 1976c 是美国国家标准与技术研究院（NIST）发布的X射线粉末衍射（XRD）仪器响应专用标准参考物质，专为各类XRD设备的2θ角峰位精度校准、衍射强度溯源与仪器性能长期监控设计，是全球材料分析领域公l认的XRD系统级校准基准。

‌技术特性‌

‌物质形态‌：单元为1块直径约25.6 mm、厚度2.2 mm的高纯度烧结氧化铝（刚玉）圆盘，固体形态完l全消除传统粉末标样制样过程引入的强度测量偏差。

‌认证属性‌：精准认证衍射峰线位置、相对衍射强度、晶格参数等核心指标，所有量值溯源至国际SI单位体系，附带NIST官l方分析证书，完l全符合ISO 17034计量溯源要求。

‌使用与储存‌：轴对称纹理设计支持沿表面法线任意方向摆放，不同安装角度下测量结果高度一致；常规实验室室温干燥避光条件下即可长期储存，无需特殊低温环境。

‌稳定性保障‌：在符合使用规范、避免表面划伤污染的前提下，认证结果在规定测量不确定度范围内可无限期有效，无常规使用下的衍射性能退化现象。

‌应用场景‌

布鲁克D8 ADVANCE、理学Miniflex等主流XRD设备的峰位精度校准，保障2θ角精度≤0.01°

材料物相定性定量分析前的仪器轮廓函数（IPF）获取，为峰形分析、微观结构计算提供校正依据

带自动进样器的XRD系统的方法验证、质量控制与长期性能监控

不同实验室间XRD衍射数据的比对与互认，消除跨设备系统偏差

东莞市百顺生物科技有限公司专业提供SRM 1976c标准品，欢迎咨询定购。