SRM640g 粉末衍射的线位置和线形状标准 (硅粉)
英文名称:Line Position and Line Shape Standard for Powder Diffraction (Silicon Powder)
品牌:美国NIST标准物质
在材料科学、半导体、化工等众多领域,射线粉末衍射仪(XRD)是分析晶体结构的核心工具,而仪器校准的精准度直接决定了检测结果的可靠性。美国国家标准与技术研究院(NIST)研制的SRM 640g硅粉标准品,正是XRD校准领域的“金标准",为科研与工业质量控制筑牢精准根
基。
SRM 640g以德国Sitronic AG超高纯本征硅晶锭为原料,经过粉碎、喷射研磨至中值粒径4.1um,再于1000°C氫气环境下退火2小时消除晶格应力,确保了材料的超高纯度与结构稳定性。其核心认证值为22.5°C下晶格参数0.5431144nm±0.000008nm,量值直接溯源至国际单位制(SI),经XRD分析验证,相对晶格变化≤±4.8x10-8(95%置信区间),均匀性与准确性无可挑剔。
作为行射线位置(20角)和线形(峰宽)标准化的量值基准,SRM 640g适配Bragg-Brentano几何行射仪,可通过基本参数法和Pawley精修精准校准20角及衍射峰半高宽(FWHM)。在材料研发中,它能帮助科研人员准确分析品体结构,为新材料的性能优化提供可靠数据;在半导体制造领域,它确保了芯片原材料的质量稳定,助力高精度芯片的生产;在化工行业,它为催化剂、新型材料的研发与质量控制提供了精准依据。
为保障SRM 640g的性能稳定,产品采用氩气封装装瓶,每个单位含7.5克硅粉。储存时需将末使用部分密封于原瓶,保持氙气防护防潮,避免污染与损坏。只要遵循规范储存与使用,其认证值在规定不确定度内无限期有效,无需定期重新认证,为用户节省了长期使用的成本与精力。
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